電子電器可靠性與環(huán)境試驗：

電子電器產品日益完善的功能與人們對產品感受的不斷追求，要求電子電器生產企業(yè)必須在源頭上對材料質量、可靠性、安全性作出有效監(jiān)控。

檢測試驗范圍：

照明電器、家用電器、多媒體、無線產品、工科醫(yī)設備、通信產品、醫(yī)療設備、機車車輛設備等各類電器產品及其組建、元器件

相關測試標準：

1、低溫試驗:

電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫GB/T2423.1-2008，IEC60068-2-1:2007

2、高溫試驗:

電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫GB/T2423.2-2008 ，IEC60068-2-2:2007

3、恒定濕熱試驗:

環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cy: 恒定濕熱主要用于元件的加速試驗 GB/T2423.50-2012，IEC60068-2-67:1995

電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分： 試驗方法 試驗Cab：恒定濕熱試驗 GB/T 2423.3-2006，IEC 60068-2-78：2001

4、交變濕熱試驗:

:電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗Db：交變濕熱（12h＋12h循環(huán)） GB/T2423.4-2008，IEC 60068-2-30:2005

5、振動試驗:

電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Fi: 振動 混合模式 GB/T 2423.58-2008，IEC 60068-2-80:2005

電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fh：寬帶隨機振動（數字控制）和導則 GB/T 2423.56-2006，IEC 60068-2-64:1993

電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fc和導則：振動（正弦）    GB/T 2423.10-2008，IEC 60068-2-6:1995

6、溫度變化試驗

環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗N: 溫度變化 GB/T 2423.22-2012，IEC 60068-2-14:2009 

7、溫度/濕度組合循環(huán)試驗：

環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗 GB/T 2423.34-2012，IEC 60068-2-38:2009

8、自由跌落試驗：

電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ed:自由跌落 GB/T 2423.8-1995，IEC 60068-2-32:1990

9、機械沖擊試驗：

電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ea和導則:沖擊  GB/T 2423.5-1995，IEC 60068-2-27:1987

10、碰撞試驗：

電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Eb和導則:碰撞 GB/T 2423.6-1995 ，IEC 60068-2-29:1987

11、傾跌與翻倒試驗：

電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ec和導則:傾跌與翻倒 (主要用于設備型樣品) GB/T 2423.7-1995，IEC 60068-2-31:1982

12、砂塵試驗：

電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗L：沙塵試驗 GB/T 2423.37-2006，IEC 60068-2-68:1994

13、鹽霧試驗：

人造氣氛腐蝕試驗 鹽霧試驗 GB/T 10125-2012，ISO 9227:2006 

電工電子產品環(huán)境試驗  第2部分: 試驗方法 試驗Ka：鹽霧 GB/T 2423.17-2008，IEC60068-2-11:1981

14、溫度沖擊：

環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗N: 溫度變化 GB/T 2423.22-2012，IEC 60068-2-14:2009

15、外殼防護試驗：

外殼防護等級（IP代碼） GB 4208-2008，IEC 60529:2001

電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗R：水試驗方法和導則 GB/T 2423.38-2008，IEC 60068-2-18:2000

16、低溫/振動(正弦)綜合試驗：

電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/AFc：散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動(正弦)綜合試驗 GB/T 2423.35-2005，IEC 60068-2-50:1983

17、高溫/振動(正弦)綜合試驗：

電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/BFc：散熱和非散熱試驗樣品的高溫/振動(正弦)綜合試驗  GB/T 2423.36-2005，IEC 60068-2-51:1983

18、溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（隨機）綜合：電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/ABMFh

星拓提供的測試試驗設備：

低溫試驗箱，高溫試驗箱，恒溫恒濕試驗箱，高低溫試驗箱，冷熱沖擊試驗箱，快速溫變試驗箱，低氣壓試驗箱，振動試驗臺，高低溫振動三綜合試驗箱，鹽霧試驗箱，沙塵試驗箱，IP防水試驗箱，機械沖擊試驗臺，碰撞試驗臺，跌落試驗機，老化試驗箱。

具體測試項目：